日立掃描電鏡是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析。SEM已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、礦物、生物學(xué)領(lǐng)域。
通常人眼能夠分辨的最小距離為0.2MM,為了觀察分析更微小的細節(jié),人們發(fā)明了各種觀察儀器。為突破光學(xué)顯微鏡的分辨極限,人們想到用電子束做照明束,并與上個世紀三十年代制造出了第一臺掃描電子顯微鏡。它的分辨率已經(jīng)達到了原子水平(≈0.1um),比光學(xué)顯微鏡提高了近兩千倍。
日立掃描電鏡的應(yīng)用:
1、掃描電鏡觀察大試樣的原始表面
掃描電鏡能夠直接觀察直徑100mm,高50mm,或更大尺寸的試樣,對試樣的形狀沒有任何限制,粗糙表面也能觀察,這便免除了制備樣品的麻煩,而且能真實觀察試樣本身物質(zhì)成分不同的襯度(背反射電子象)。
2、掃描電鏡連續(xù)觀察
掃描電鏡進行從高倍到低倍的連續(xù)觀察,放大倍數(shù)的可變范圍很寬,且不用經(jīng)常對焦。
3、掃描電鏡觀察試樣表面形貌
掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進行成分和元素的分析,以及通過電子通道花樣進行結(jié)晶學(xué)分析,選區(qū)尺寸可以從10μm到3μm。
4、掃描電鏡觀察納米材料
所謂納米材料就是指組成材料的顆?;蛭⒕С叽缭?.1-100nm范圍內(nèi),掃描電鏡的一個重要特點就是具有很高的分辨率。現(xiàn)已廣泛用于觀察納米材料。
5、掃描電鏡觀察材料斷口
掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次,高景深的角度呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì),在教學(xué)、科研和生產(chǎn)中,有不可替代的作用,在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析已經(jīng)工藝合理性的判定等方面是一個強有力的手段。
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